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题名/责任者:

电子显微镜中的电子能量损失谱学/R. F. Egerton著 段晓峰 ... [等] 译

出版发行项:

北京:高等教育出版社,2011.03

ISBN及定价:

978-7-04-031535-6 精装/CNY68.00

载体形态项:

444页:图;25cm

并列正题名:

Electron energy-loss spectroscopy in the electron microscope

丛编项:

材料科学经典著作选译

个人责任者:

埃杰顿 (Egerton, R.F.) 著

个人次要责任者:

段晓峰 译

学科主题:

电子能量损失谱仪 (LEEELS)-研究

中图法分类号:

TH838

版本附注:

据原书第2版译出

责任者附注:

责任者规范汉译姓: 埃杰顿

书目附注:

有书目 (第379-430页) 和索引

提要文摘附注:

本书共分五章: 第一章简要介绍了电子能量损失谱学, 包括快电子与固体的相互作用、电子能量损失谱实验技术的进展, 以及和其他分析技术的比较 ; 第二章介绍了电子能量损失谱的仪器设备的原理和能量分析与能量选择系统 ; 第三章系统地介绍了电子散射理论, 重点讨论了非弹性散射的模型和理论、外壳层和内壳层电子激发的原子理论 ; 第四章为能量损失谱的定量分析的原理和方法 ; 第五章通过大量的例子介绍了能量损失谱的应用。

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