MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：4
- 题名/责任者:
- 互换性与测量技术基础/主编陈于萍, 周兆元
- 版本说明:
- 第2版
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2006
- ISBN及定价:
- 7-111-05924-7/CNY23.00
- 载体形态项:
- 229页:图;26cm
- 丛编项:
- 普通高等工科教育机电类规划教材
- 个人责任者:
- 陈于萍 主编
- 个人责任者:
- 周兆元 主编
- 学科主题:
- 互换性-教材
- 学科主题:
- 技术测量-教材
- 学科主题:
- 公差-教材
- 中图法分类号:
- TG801
- 书目附注:
- 有书目 (第229页)
- 提要文摘附注:
- 本书内容包括绪论、测量技术基础、尺寸的公差配合与检测、形位公差与检测、表面粗糙度与检测、圆锥和角度公差与检测、尺寸链基础、光滑极限量规设计、常用结合件的公差与检测、渐开线圆柱齿轮传动公差与检测，以及计算机在公差与检测中的应用举例等。
全部MARC细节信息>>
样本库